PDA

View Full Version : Giá trị Cp và Cpk trong đánh giá chất lượng



TYA
25-03-2009, 06:35 PM
Hình minh họa : CL là center line của yêu cầu kt
CL0 là center line của kích thước thực(là gt trung bình)
UCL là giá trị giới hạn trên, upper control line
LCL là giá trị gh dưới, lower control line
CL là giá trị (trung tâm) mong đợi, center line

http://chiase.anhso.net/as/09/03/25/1.JP218319.jpg

Ai học kĩ thuật mà ra được trường chắc chắn phải học qua môn Xác xuất thống kê , Phương pháp xử lý số liệu với phân phối Chuẩn và sigma (sai số chuẩn ), tỉ lệ phế phẩm, xác suất xuất hiện phế phẩm.....



>>Nói chung đó vẫn là các bài toán TO ĐÙNG, phức tạp, đòi hỏi tham khảo nhiều bảng tra....

>> Để có 1 cách đơn giản và khoa học đánh giá sự ổn định của một máy gia công, người ta đưa ra khái niệm Cp và Cpk...(Nhật hay Mỹ phát minh tôi hok biết)

Khái niệm Cp :
Là đại lượng đánh giá mức độ ổn định của giá trị thu thập ngẫu nhiên. Xác định bởi công thức

Cp = (UCL - LCL)/(6sigma) hay Cp = T/(6sigma)

Cp viết tắt của Capacity process .

Trong đó UCL là giá trị giới hạn trên, upper control line
LCL là giá trị gh dưới, lower control line
CL là giá trị (trung tâm) mong đợi, center line
sigma không cần giải thích thêm nữa.
T là miền dung sai, T = UCL - LCL

Trong kĩ thuật, không kiểm tra 100% được trong đại đa số các trường hợp. Việc kiểm tra qua pp lấy mẫu lô để giảm thời gian và kinh phí đo kiểm , nhân lực .... tóm lại là tăng năng xuất, giảm giá thành.

Lý thuyết Cp áp dụng trên nguyên tắc 6sigma với giả định giá trị khảo sát (kích thước) tuân theo pp Chuẩn Gauss.

(Khi vẽ hàm Gaus, ta biết là nó có tiếp tuyến với trục hoành ở vô cực. Tính từ trục đối xứng của đồ thị thì khoảng cách chắn bởi 3sigma mỗi bên sẽ chiếm 99.7% diện tích của miền tạo bởi hàm và trục hoành. Phần còn lại là 3 0% được bỏ qua >> coi như hàm Gauss chắn 1 đoạn là 6 sigma. Do đó có tên nguyên lý 6sigma) (*)

Ở trên hình minh họa, trục và đồ thị hàm Gauss đã xoay 90 độ cho dễ nhìn. Hai điểm cut off giới hạn 1 khoảng 6sigma

Ý nghĩa : Cp phản ánh tỉ lệ giữa miền dung sai y/c và miền phân bố kích thước thực.

Cách làm :
Để kt tra thiết bị có cho sản phẩm ổn định không, người ta gia công 1 lô liênn tục mà KHÔNG HIỆU CHỈNH MÁY, tức là để kích thước biến đổi ngẫu nhiên. Lô thường là 50 chiếc (lot size) trở lên - càng nhiều càng chuẩn (nhưng không quá giới hạn mòn dụng cụ). Từ lô đó, lấy ngãu nhiên 20 ~ 50 pcs đi đo kiểm.

>> Từ dl đo, tính sigma và gt trung bình (excell chẳng hạn), căn cứ vào yc của kich thước mà tính Cp, Cpk.

Đánh giá :

Khi Cp > 1.66 năng lực máy rất tốt, tức là máy quá ổn định để làm ra chi tiết với yckt đã cho. Lý do có thể là cấp cx máy khá cao so với dung sai bản vẽ kt, do chế độ cắt quá chậm....
Và ta không cần quản lý chặt chẽ đối với kích thước này. Ta có thể thử với máy khác rẻ tiền , cấp cx thấp hơn, hay cho dao ăn nhanh hơn nhằm tăng năng xuất.
Hoặc đang kt với tần suất 1/20 thì ta chỉ cần kt với 1/200 chi tiết (là vd thế) để đỡ tốn công.

Khi Cp < 1.66 và >1.33 là năng lực hợp lý nhất. Đây cũng là target mong đợi ở máy.
Công đoạn ổn định và mức độ quản lý vừa phải

Cp >1 <1.33 là năng lực máy tạm chấp nhận được. Khi có khả năng thì hãy cố gắng cải tiến máy tốt hơn , kt lại chế độ cắt, dao, gá... làm sao nâng cao năng lực lên. Phải quản lý chặt khi thiết bị có năng lực trong phạm vi này : tăng cường kiểm tra sản phẩm.

Cp >0.67 <1 thì phải quản lý rất chặt. Máy, công đoạn không chấp nhận được ! Nên đo 100% cho các sp. KHÓ MÀ THUYẾT PHỤC KHÁCH HÀNG VỀ CHẤT LƯỢNG CỦA BẠN.

Cp<0.67 : KHÔNG PHẢI NÓI NỮA, VỨT MÁY ĐI HAY LÀ BẠN LÀM 10 SP HỎNG 8 CHIẾC ?

Chú ý nhé : Cp tỉ lệ nghịch với sigma ( độ tán xạ) của mẫu kích thước và tỉ lệ thuận với miền dung sai.

>> dung sai càng lớn Cp càng lớn ( là d sai bản vẽ chứ không phải dung sai của mẫu !).

Có t/h phải từ Cp mà tính ngược ra miền dsai T đó. Vd, độ vuông góc lỗ - mặt đầu ảnh hưởng đến công đoạn chuốt lỗ.
Vậy ở tiện bạn cần xác định nó mà không biết cần bao nhiêu um độ vuông góc ? Trong tay bạn cầm bvkt có ghi dung sai độ vuông góc là 0.03 >>>> bạn biết là cần có độ vuông góc ở sau tiện (cho chuốt) là nhỏ hơn 0.03 và càng nhỏ càng tốt.

Đây là lúc phải xác định độ vg ở tiện : đòi 0.005 thì ok nhưng công nhân học chửi cho, vì 0.005 quá khó làm, phế phẩm nhiều, mà chọn 0.03 thì làm con nào cũng ok nhưng chuốt xong thì hỏn cả núi !

Cách tính : gia công >> lấy mẫu >> đo >>tính sigma>> chọn Cp = 1.5 >> tính ra độ vg y/c.

Nếu độ vg y/c này ,vd là 0.05 thì ôi thôi, máy tiện lại không đủ năng lực rồi (vì ít ra cung phải đạt 0.03 , mà lắp 0.03 vào lại ra Cp=0.83 vd thế!)

================

Trong các đại lượng chỉ có 1 limit, ví dụ ds hình học : độ đảo, độ //, độ tròn v.v.v thì ta không tính Cp mà phải tính Cpk. Là vì, y/c độ // 0.02 ta không thể chọn targret CL là 0.01 được, không ai muốn thế cả. Các địa lượng đó luông có CL = 0 (không sai số)

Vì thế đây là t/h có 1/2 đồ thị "quả chuông", cái ta kiểm soát là đường CL0 nằm về phía "0" , hay là nằm cách UCL càng xa càng tốt. Đại lượng Cpk phản ánh đọ lệch của CL0 so với CL

Cpk = (UCL-CL0)/(3sigma)

vd : độ //trung bình = 0.015, sigma = 0.001, yckt là //0.02 thì Cpk = (0.02-0.015)/(3x0.001) = 1.67

Với các kích thước 2 limit như chiều dài, đường kính, cân nặng ...thì

Cpk = (UCL - CL0)/(3sigma) hoặc (CL0- LCL)/(3sigma) tùy theo cái nào nhỏ hơn.

Cpk là đại lượng có thể âm. vd yckt phi 40+-0.1 mà kích thước làm ra là phi 41.01, 41.03, 41.01, 41.00 v..v.vv khi đó Cp thì đạt (do sigma nhỏ) mà Cpk âm - do vọt ra ngoài phạm vi y/c (cứ lắp vô công thức là thấy).

T/C đánh giá ok cho Cpk là 1.0 chứ không phải 1.33 như Cp.

Hy vọng là chút bổ ích cho một số người !

==============
(*) do nguyên lý 6sigma chấp nhận giả định sai số 3/1000 nên không thể áp dụng cho ngành hàng không, vụ trụ, y tế... nơi mà tỉ lệ phế phẩm , rủi ro cho phép <1/1000000

TYA
30-03-2009, 10:47 PM
Cp là tỉ số giưa 2 đoạn thẳng dài T là 6sigma như trên minh họa.
Khi tỉ số này < 1 nghĩa là đoạn T chắn bởi UCL và LCL sẽ ngắn hơn đoạn 6sigma

==>> dù trung tâm dữ liệu CL0 trùng với tiêu chuẩn trung tâm CL thì phân bố dữ liệu vẫn vọt ra khỏi miền yêu cầu.

Khi Cp = 1 thì hai đoạn trên bằng nhau, thì trong trạng thái lý tưởng CL0=CL thì vẫn có 3 0%(3/1000) phân bố vọt ra ngoài như nguyên lý 6sigma.

Thực tế không thể đạt được CL0=CL vì luôn có sai số ngãu nhiên và sai số hệ thống (máy dơ, dao mòn, biến dạng nhiệt, ứng suất nén bề mặt khi cắt ..vv..v) .

Khi đó tỉ lệ phế phẩm còn cao hơn.


Khi Cp >1 thì miền phân bố kt thực nằm ngọn trong miền phân bố lý thuyết Gauss 6sigma. Xác suất xuất hiện phế phẩm đã giảm.

Khi Cp=1.33 là bắt đầu đạt độ tin cậy cho tỉ lệ phế phẩm. Thực ra Cp=T/6sigma cũng không xa lạ quá, nó là đại lượng tính trung gian rồi đem tra bảng, để chọn giá trị hàm ngược rồi lắp vào công thức xác suất OK/phế phẩm ... lằng nhằng lắm.

Cpk phản ánnh độ lệch của CL0 với CL được xác định là Cpk = (1-K).Cp trong đó K là độ lệch

chính là kí hiệu e trong môn sx .

K = e = ABS(CL0-CL)/T và 1 - K = 1 - ABS(e)/T

triển khai cuối cùng Cpk = min((CL0-LCL)/3sigma, (UCL-CL0)/3sigma))

Giá trị tối đa của Cpk là khi e = 0 : Cpk = Cp và không có lệch chuẩn

=======
Để xác nhận ok cần cả 2 dữ liệu Cp và Cpk.

======
biểu đồ "quả chuông" có ý nghĩa đánh giá khác nữa , vd phát hiện mẫu đo là trộn lẫn của sp 2 máy, do khau đo k cx ...
Khi có tg sẽ đăng nốt........

TYA
04-06-2009, 09:52 PM
http://upanh.com/uploads/04-June-2009/yth6j73jghrjq9qf5p8.jpg

Xem hình trên.

a) là biểu đồ Gause của tập hợp điểm dữ liệu. Khi các điểm dữ liệu được gom vào từng nhóm (miền ) nhỏ thì biểu đồ không còn dạng đường liền mà thành các cột phân đoạn như hình b,c,...f.

Đây là cách thực tế sử dụng nhiều, ít khi xử lý dữ liệu điểm.

Ví dụ 100+/-0.2 , nếu ta nhóm thành các nhóm rộng 0.04 ( ví dụ 100, 100.01 , 100.025, 100.04 đều thuộc nhóm 100~100.04 và nhóm này có 4 phần tử nêu trên)

Ta sẽ có 10 nhóm tổng cộng (dung sai +/-0.2 nên T=0.4, mỗi nhóm rộng 0.04 nên sẽ là 10 nhóm)

Số nhóm thường quy định là n= căn bậc 2 của số dữ liệu đo. Ví dụ xử lý 100 dữ liệu thì n=10, từ đó mà tính ra bề rộng 1 nhóm

Với quy định trên, ta nhận định đồ thị như sau :

b) Rất tốt. Miền phân bố hẹp, giá trị tập trung ở trung tâm phân bố. Loại này ứng với Cp cao

c) Không tốt. Độ phân tán rộng, dữ liệu không ổn với độ tán xạ cao, giá trị Cp thấp

d) Không tốt. Phân bố bị lệch. Dữ liệu bị ảnh hưởng bởi 1 nhân tố nhất định. Ví dụ dao mòn nên đường kính giảm dần (tiẹn ngoài) nên dữ liệu xa dần trung tâm theo 1 phía.

e)Không tốt. Không có trung tâm phân bố. Nguyên nhân có thể do dữ liệu thu thập bởi dụng cụ đo không chính xác ( yêu cầu 0.01 lại đo = thước kẹp chẳng hạn), hoặc do dữ liệu đo bị làm tròn hoặc do chia khoảng có độ rộng không phù hợp, ví dụ chia quá nhỏ làm cho 4 giá trị nêu ở trên nằm vào 4 khoảng,


tức là mỗi khoảng chỉ có 1 phần tử, khi vẽ ra các cột dều cao bằng nhau

f)Không tốt. Đây là dạng núi đôi, do sự trộn lẫn hai dữ liệu khi lấy mẫu( của hai máy với nhau, của hai ca khác nhau, ) hoặc có sự điều chỉnh máy tạo ra trung tâm phân bố thứ 2.

vd, sản phẩm 1,2,3....~50 nhằm vào kích thước 100.08, sau đó chi tiết sô 51 đo ra 99.89 và người thợ chỉnh máy , kích thước trở thành 100.12 và từ sản pẩm số 52...~100 sẽ theo trung tâm phân bố là 100.12

Đó là nguyên nhân.

worm
23-12-2009, 11:35 AM
Trong thực tế, đối với mấy tên KTV (tớ chẳng hạn), việc ngồi thống kê và tính toán để ra các trị số Cp, Cpk cũng như dựng đồ thị thường rất mất thời gian so với việc đo kiểm. Do đó, có một phần mềm miễn phí dùng để xử lý đống dữ liệu này (nhất là khi số giá trị cần kiểm và số lượng mẫu lớn) là:
Freeware Process Capability Calculator


http://www.symphonytech.com/pccfree.htm

quanghalas
10-09-2010, 07:56 PM
Nói thật là trước đây học trong trường, tôi cũng chẳng hiểu các thầy nói máy cái này để làm gì.
Sau này tiếp xúc với sản xuất hàng loạt thì mới thấy nó có ý nghĩa quá.
Trước đây tôi thường dùng phần mềm Minitab để xử lý mấy cái dữ liệu này.
Có cả bản tiếng Nhật nữa. Dùng cũng khá tốt và đơn giản.
Mọi người hãy tìm và dùng thử

KHẮC LASER TRÊN KIM LOẠI
**********************
laserhatrung@gmail.com (laserhatrung@gmail.com)
0916 10 89 10

lyatum
04-05-2011, 11:25 AM
Trong thực tế, đối với mấy tên KTV (tớ chẳng hạn), việc ngồi thống kê và tính toán để ra các trị số Cp, Cpk cũng như dựng đồ thị thường rất mất thời gian so với việc đo kiểm. Do đó, có một phần mềm miễn phí dùng để xử lý đống dữ liệu này (nhất là khi số giá trị cần kiểm và số lượng mẫu lớn) là:
Freeware Process Capability Calculator


http://www.symphonytech.com/pccfree.htm



Bạn có thể gởi cho mình soft này được không.
Mình có lên trang web bạn giới thiệu nhưng khyông thể down được

Thanks

nguyenthanh2309
04-05-2011, 11:40 AM
Bạn click vào Download Now

http://i1125.photobucket.com/albums/l586/nguyenthanh2309/download_1.jpg

Điền đầy đủ thông tin ở các tab cần thiết (có dấu kiểm màu đỏ) .Sau đó bấm Download là sẽ download được bản Free mà

http://i1125.photobucket.com/albums/l586/nguyenthanh2309/download.jpg




Nguyenthanh.

Lupin
04-05-2011, 11:49 AM
Bạn có thể gởi cho mình soft này được không.
Mình có lên trang web bạn giới thiệu nhưng khyông thể down được

Thanks

Bạn PM email vào inbox của mình. mình gửi cho hoặc làm như sau
Vào trang chủ của nó kích vào chỗ khoanh đỏ:

http://cB1.upanh.com/22.108.29101570.axV0/spc1.png

Tiếp kích vào chỗ khoanh đỏ:

http://cB8.upanh.com/22.108.29101497.b8e0/spc.png

Nó sẽ hiện ra 1 bảng yêu cầu nhập họ tên, email...vv sau khi nhập xong kích download là xong như của Hotboy ý

Cái của Hotboy không phải là bộ cái nhé :)

Lưu ý: Phần mền này chỉ có bản trail 30day , nếu muốn dùng thì phải mua (mình đã thử tìm medicin rồi nhưng không được)